1.测试二极管一步，一般是光耦的1
2脚
2.用光耦的测试模式去测试，这步非常重要。四个针点号码（高
低点加隔离点1与2）具体方法不同ICT设备有一点点不同，它的标准测试导通后电压大约在0.2V.在调试时多试试就行
1、比较法。拆下怀疑有问题的光耦，用万用表测量其内部二极管、三极管的正反向电阻值，用其与好的光耦对应脚的测量值进行比较，若阻值相差较大，则说明光耦已损坏。
2、数字万用表检测法。下面以EL817光耦检测为例来说明数字万用表检测的方法，检测电路。检测时将光耦内接二极管的＋端{1}脚和－端{2}脚分别插入数字万用表的Hfe的c、e插孔内，此时数字万用表应置于NPN挡；然后将光耦内接光电三极管C极{5}脚接指针式万用表的黑表笔，e极{4}脚接红表笔，并将指针式万用表拨在RX1k挡。这样就能通过指针式万用表指针的偏转角度，实际上是光电流的变化，来判断光耦的情况。指针向右偏转角度越大，说明光耦的光电转换效率越高，即传输比越高，反之越低；若表针不动，则说明光耦已损坏。
3、光电效应判断法。仍以EL817光耦合器的检测为例，检测电路。将万用表置于RX1k电阻挡，两表笔分别接在光耦的输出端{4}、{5}脚；然后用一节1.5v的电池与一只50～100Ω的电阻串接后，电池的正极端接EL817的{1}脚，负极端碰接{2}脚，或者正极端碰接{1}脚，负极端接{2}脚，观察接在输出端万用表的指针偏转情况。指针摆动，说明光耦是好的，如果不摆动，则说明光耦已损坏。万用表指针摆动偏转角度越大，表明光电转换灵敏度越高。
